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                          長沙海貝智能科技有限公司

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                          解決方案 / SOLUTION

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                          LED基板外延片及芯片缺陷測系統
                          LED基板外延片及芯片缺陷測系統

                           該系統可檢測LED基板外延片的鍍膜不均勻、亮點、黑色臟污等缺陷,可檢測LED芯片電極針痕、電極刮傷、缺失、劃痕、斜切、臟污、異色等缺陷。檢測精度:1.5um;檢測后,會將不合格的芯片的位置反饋給剔除系統。


                          • 基本介紹

                           該系統可檢測LED基板外延片的鍍膜不均勻、亮點、黑色臟污等缺陷,可檢測LED芯片電極針痕、電極刮傷、缺失、劃痕、斜切、臟污、異色等缺陷。檢測精度:1.5um;檢測后,會將不合格的芯片的位置反饋給剔除系統。


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